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北京老上光仪器有限公司
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集成电路在研制、生产和使用过程中失效不可避免,随着人们对芯片产品和-性要求的不断提高,失效分析工作也显得越来越重要,通过芯片检测显微镜对集成电路失效分析,可以帮助集成电路设计人员找到设计上的缺陷、工艺参数的不匹配或设计与操作中的不当等问题。
采用-远光路系统,配置了落射与透射照明系统、-远长距平场消色差物镜、内置偏光观察装置,具有图像清晰、衬度好,造型美观,操作方便等特点,能分别对不透明物体或透明物体进行显微观察,尤其适合观察金相试样,电子芯片等样品。是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。
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采用-远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,实现偏光观察、暗场观察等功能,紧凑稳定的高刚性主体,充分体现了显微操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计,使操作更方便舒适,空间更广阔。适用于金相组织及表面形态的显微观察,是金属学、矿物学、精密工程学研究的理想仪器。
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